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2024/07/01
Stealth Dicing?（隱形切割）技術
Stealth Dicing（隱形切割）技術是一種使用激光的激光切割技術，具有全新的概念。由于“完全干燥工藝”、“無截口損失”、“無切屑”、“高彎曲強度”等特點，該技術適用的器件范圍將擴大到包括 MEMS 器件和存儲器件等。
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2024/06/24
促進無接觸式機械操作和節省人工的自主機器人的 3D TOF 傳感器 測距圖像傳感器 S15452/S15453/S15454-01WT
衛生管理機器的無接觸式操作、用于確保社交距離的測量工具，以及節省人工的自主機器人在日常生活中變得日益普遍。這一趨勢引起了人們對實現此類技術的傳感器技術的關注。 該測距圖像傳感器旨在通過間接 TOF（飛行時間）方法測量與物體的距離。它可用于在各種需要無接觸（非接觸式）或節省人工技術的情況下進行人員/物體檢測和形狀識別。 我們最近在產品陣容中增加了三款薄型背照式傳感器（64 像素、256 像素和 96 × 72 像素）。 我們計劃進一步擴大傳感器陣容并發布集成了光源（脈沖激光二極管）、光學系統和積分電路 (ASIC) 的模塊產品。
提供世界級紫外靈敏度和抗紫外線性能 結合了 TDI-CCD 和 CMOS 讀出電路的新型圖像傳感器 TDI-CCD 圖像傳感器 S14810/S14813
濱松開發了一種圖像傳感器，結合了 TDI-CCD 的優勢，即使在高速成像期間也能確保圖像的足夠輝度，同時具有 CMOS 讀出電路的優點，可實現高速行速率和數字輸出。
專為檢測紫外光而設計 (λ=266 nm) 用于半導體檢查設備的硅 APD "S14124-20"
S14124-20 是一款對 266 nm 紫外光具有高靈敏度的硅 APD。 在半導體制造工藝中，由于電路圖案的工藝幾何形狀小型化，必須在晶圓上檢測到的缺陷變得越來越小。 為了提高檢測此類缺陷的精度，在光學半導體檢查設備中使用對紫外光具有高靈敏度的短波長光源和探測器。 濱松的新產品 S14124-20 對于 266 nm 波長的光提供 87% 的高量子效率，這是用作半導體檢查設備光源的 YAG 激光器的第四次諧波。 本產品可用作半導體檢查設備、激光加工設備和光罩缺陷檢查設備的探測器。 數據單 [523 KB/PDF]
高紫外靈敏度和抗紫外線性能 適用于監控強紫外線光源的緊湊型硅光電二極管 "S15289-33"
S15289-33 是一款背照式硅光電二極管，結合了當前紫外光電二極管（高紫外靈敏度 S1337 系列和高抗紫外線 S12698 系列）的功能，同時具有緊湊的 CSP（芯片級封裝）結構。 它適用于監控強紫外光源等用途，因為它在紫外區域具有高靈敏度，并且紫外線輻射造成的靈敏度劣化極輕微。 與當前產品相比，它更緊湊，因而能夠安裝在狹小的空間內，也能夠安裝在小型和薄型的光監測裝置上。 此外，由于沿產品邊緣的死區較小，可以并排鋪設多個產品。 它還可用于各種分析和光學測量設備。
高分辨率和高速 我們的工業相機線陣傳感器系列中新增的 8k 像素類型 CMOS 線陣圖像傳感器 S15778
對于需要高速行速率的工業相機，我們已將高速 CMOS 線陣傳感器系列的首款 8k 像素類型 CMOS 線陣圖像傳感器 S15778 添加到我們的產品陣容中。
適用于各種分析和測量用途的全新硅 APD 陣列陣容 在短波長范圍內具有高靈敏度的 1×16 ch APD 陣列 S15249
S15249 是一系列硅 APD（S12053 系列），在紫外光到可見光區域具有高靈敏度，廣泛用于分析和測量設備。 通過將各元件之間的間隙大幅縮小到 60 μm，有助于實現測量，同時減少由于間隙造成的信號光損失。 封裝緊湊，價格便宜，適合批量生產，采用表面貼裝技術，在硅光電二極管陣列 (S15158) 中得到了驗證。
我們新增了一種“TOF 傳感器”，這種傳感器有助于 需要考慮隱私的“狀態監控”和“安全監控”等情形。 測距圖像傳感器 S16443-01WT、S16444-01WT
安防相機旨在捕獲可疑人員和活動的圖像，因此它們必須能夠捕獲高分辨率圖像。
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